Abstract: С целью определения основных параметров, определяющих концентрацию ударно-индуцированных дефектов в металле, анализируются эксперименты по измерению электросопротивления медной фольги при ударном сжатии. По избыточному электросопротивлению металла оценена концентрация точечных дефектов кристаллической структуры в медных образцах, помещенных в различные обоймы (оргстекло, гетинакс, фторопласт). Обнаружено влияние материала обоймы на количество дефектов, возникающих при ударном сжатии металла. Обойме с бóльшим ударным импедансом соответствует меньшее значение концентрации дефектов в образце (при одинаковом давлении ударной волны в обойме). Для объяснения полученных экспериментальных результатов формулируется физическая модель генерации дефектов кристаллической структуры при ударно-волновом сжатии. Согласно модели дефекты образуются при сжатии вещества во фронте ударной волны, а при разгрузке остаются «замороженными». При вторичном сжатии вещества возникает новая порция дефектов, что приводит к их накоплению. Предположено, что определяющим параметром количества возникающих дефектов в процессе динамического нагружения является алгебраическая сумма деформаций металла на каждой стадии ударного сжатия. Данные, представленные в переменных концентрация дефектов —- деформация дают зависимость, которая нивелирует разницу в материале обоймы. Проведенный анализ позволяет утверждать, что сумму деформаций можно рассматривать как параметр, определяющий величину концентрации дефектов, генерируемых при ударном сжатии меди.

Cite: Гилев С.Д.
Параметр, определяющий концентрацию дефектов кристаллической структуры при ударно-волновом сжатии меди
Физика горения и взрыва. 2025. Т.61. №3. С.137-149. DOI: 10.15372/FGV2023.9386 РИНЦ

Translated: Gilev S.D.
A Parameter Governing the Concentration of Crystal Lattice Defects in Shock-Compressed Copper
Combustion, Explosion and Shock Waves. 2025. V.61. N3. P.470-479. DOI: 10.1134/s0010508225700303 OpenAlex

Dates:

Submitted:	Sep 11, 2023
Accepted:	Nov 27, 2024

Identifiers:

Elibrary:

79705052

Citing: Пока нет цитирований

Altmetrics: